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主页 > 新品速递 > 制造商新动向 > Texas Instruments > DLPLCRC410EVM DLP评估模块 (EVM) - TI | 贸泽
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Texas Instruments DLPLCRC410EVM DLP评估模块 (EVM)

Texas Instruments DLPLCRC410EVM DLP评估模块 (EVM) 可搭配五种其他基于DMD的评估模块中的一款使用。该平台可展示先进的光控,适用于光刻、3D打印(SLS和SLA)、机器视觉以及打标和编码等应用。该评估模块可评估新的客户照明源、光学、算法和曝光过程, 从而加快潜在的DLP技术评估过程,缩短客户学习周期并加快产品上市速度。

特性

  • 5种不同DMD(DLPLCR65N、DLP7000、DLP7000UV、DLP9500和DLP9500UV)之一的光控制
  • 二进制图形速率高达32kHz
  • 灰度图形速率高达1.9kHz
  • 400Mhz时钟速率下的2xLVDS DDR输入数据接口
  • 支持对DMD行进行随机行寻址

套件内容

  • DLPLCR410EVM评估模块
  • 不包含电源
Texas Instruments DLPLCRC410EVM DLP评估模块 (EVM) 放大